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    原子力顯微鏡

    更新時間:2022-08-24 00:00:00

    訪問量:1375

    簡要描述:

    原子力顯微鏡作為一款缺陷形貌分析的精密測量儀器,其主要目的是對樣品進行缺陷檢測。而儀器所提供的數據不能允許任何錯誤的存在。Park NX20,這款精密的大型樣品原子力顯微鏡,憑借著出色的數據準確性,在半導體和超平樣品行業中大受贊揚。

    原子力顯微鏡用于故障分析和大型樣品研究的納米計量工具

    作為一款缺陷形貌分析的精密測量儀器,其主要目的是對樣品進行缺陷檢測。而儀器所提供的數據不能允許任何錯誤的存在。Park NX20,這款精密的大型樣品原子力顯微鏡,憑借著出色的數據準確性,在半導體和超平樣品行業中大受贊揚。

    分析功能

    Park NX20可快速幫助客戶找到產品失效的原因,并幫助客戶制定出更多具有創意的解決方案。精密度為您帶來高分辨率數據,讓您能夠更加專注于工作。與此同時,真正非接觸掃描模式讓探針尖端更鋒利、更耐用,無需為頻繁更換探針而耗費大量的時間和金錢。

    即便是第一次接觸原子顯微鏡的工程師也易于操作

    ParkNX20擁有業界便捷的設計和自動界面,讓你在使用時無需花費大量的時間和精力,也不用為此而時時不停的指導初學者。借助這一系列特點,您可以更加專注于解決更為重大的問題,并為客戶提供及時且富有洞察力的失效分析報告。

    樣品側壁三維結構測量

    NX20的創新架構讓您可以檢測樣品的側壁和表面,并測量它們的角度。眾多的功能和用途正是您的創新性研究和敏銳洞察力所必備的。

    對樣品和基片進行表面光潔度測量

    表面光潔度測量是Park NX20的關鍵應用之一,能夠帶來精確的失效分析和質量保證。

    高分辨率電子掃描模式

    QuickStep SCM

    掃描式電容顯微鏡

    PinPoint AFM

    無摩擦導電原子力顯微鏡

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