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    原子力顯微鏡

    原子力顯微鏡作為一款缺陷形貌分析的精密測量儀器,其主要目的是對樣品進行缺陷檢測。而儀器所提供的數據不能允許任何錯誤的存在。Park NX20,這款精密的大型樣品原子力顯微鏡,憑借著出色的數據準確性,在半導體和超平樣品行業中大受贊揚。

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